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电子元器件寿命曲线电子元器件寿命曲线图铜陵

时间：2023-03-21 16:10:17 来源：彩虹五金网浏览量：0

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1、准确确定老化时间的方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据，而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。老化制程必须要确保工厂的产品满足用户对可靠性的要求，除此之外，它还必须能提供工程数据以便用来改进器件的性能。老化制程籍由工作环境和电气性能两方面对半导体器件进行苛刻的试验使故障尽早出现，典型的半导体寿命曲线如右图。

2、主要故障都出现在器件寿命周期开始和*后的十分之一阶段。老化就是加快器件在其寿命前10%部份的运行过程，迫使早期故障在更短的时间内出现，通常是几小时而不用几月或几年。不是所有的半导体生产厂商对所有器件都需要进行老化。普通器件制造由于对生产制程比较了解，因此可以预先掌握籍由统计得出的失效预计值。

电子元器件寿命曲线相关拓展

电子元器件寿命曲线图

准确确定老化时间的方法是参照以前收集到的老化故障及故障分析统计数据，而大多数生产厂商则希望减少或者取消老化。老化制程必须要确保工厂的产品满足用户对可靠性的要求，除此之外，它还必须能提供工程数据以便用来改进器件的性能。老化制程籍由工作环境和电气性能两方面对半导体器件进行苛刻的试验使故障尽早出现，典型的半导体寿命曲线如右图。

主要故障都出现在器件寿命周期开始和最后的十分之一阶段。老化就是加快器件在其寿命前10%部份的运行过程，迫使早期故障在更短的时间内出现，通常是几小时而不用几月或几年。不是所有的半导体生产厂商对所有器件都需要进行老化。普通器件制造由于对生产制程比较了解，因此可以预先掌握籍由统计得出的失效预计值。

电子元器件寿命曲线计算

航天器电子元器件疲劳寿命分析。航天器电子元器件。Miner累积损伤理论。中图分类号:V414.1。TB115文献标志码:A。DAIFeng,,FUYonghui,。Xi’.,Xi’an710000,China)。Abstract:,--,launch,.().-.。2009-[KG*9〗09-[KG*9〗13修回日期:2009-[KG*9〗11-[KG*9〗06。

代锋(1978―),男,陕西咸阳人,工程师,硕士,研究方向为航天器电子设备结构力学分析,(E-mail)0引言。热环境包括热循环试验和在轨运行阶段的热真空环境(发射阶段电子设备处在火箭整流罩内部,外界热环境对其影响较小).。1Miner累积损伤理论。

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